Surface-Assisted Chemistry at Interfaces between Metals and Organic Thin Films

Surface-Assisted Chemistry at Interfaces between Metals and Organic Thin Films

Interfaces between metals and organic thin films are of paramount importance for organic electronic devices. By photoemission spectroscopy (XPS), scanning tunneling microscopy/spectroscopy (STM/STS), temperature programmed desorption/reaction (TPD/TPR) and density functional theory calculations (DFT...

Täydet tiedot

Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Chen, Min
Muut tekijät: Gottfried, J. Michael (Prof. Dr.) (BetreuerIn (Doktorarbeit))
Aineistotyyppi: Dissertation
Kieli:englanti
Julkaistu: Philipps-Universität Marburg 2016
Aiheet:
Metallier
Corrol
Porphyrine
Ullmann-Kupplung
depth profile
metal-organic interface
Ullmann-reaction
Grenzphase
HAXPES
interphase
Tiefenprofil
Phthalocyanin
Rastertunnelmikroskopie
Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
Chemie
Thermische Desorptionsspektroskopie
Metallorganische Grenzschicht
Chemistry & allied sciences
Linkit:PDF-kokoteksti
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
No citations were found for this record.

Samankaltaisia teoksia