Nichtlineare optische Spektroskopie an der Galliumphosphid-Silizium(001)-Grenzfläche

In dieser Arbeit wurde die Grenzfläche zwischen Galliumphosphid (GaP) und Silizium(001) (Si), einem polaren, respektive nicht polaren indirekten Halbleiter, mittels nichtlinearer optischer Spektroskopie untersucht. Dabei stand die optische Frequenzverdopplung an der Grenzfläche im Vordergrund. Es ko...

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Brixius, Kristina
Beteiligte: Höfer, Ulrich (Prof. Dr.) (BetreuerIn (Doktorarbeit))
Format: Dissertation
Sprache:Deutsch
Veröffentlicht: Philipps-Universität Marburg 2014
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Signatur: urn:nbn:de:hebis:04-z2014-05392
Publikationsdatum: 2014-07-17
Datum der Annahme: 2014-05-28
Downloads: 140 (2024), 220 (2023), 180 (2022), 119 (2021), 137 (2020), 90 (2019), 100 (2018)
Lizenz: https://rightsstatements.org/vocab/InC-NC/1.0/
Zugangs-URL: https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2014/0539
https://doi.org/10.17192/z2014.0539