Quantitative Untersuchungen der Zusammensetzung von kubischen III/V-Verbindungshalbleitern mittels HAADF-STEM

Quantitative Untersuchungen der Zusammensetzung von kubischen III/V-Verbindungshalbleitern mittels HAADF-STEM

In der Raster-Transmissionselektronenmikroskopie (STEM) erlaubt insbesondere die Detektion von jenen Elektronen, die aus dem konvergenten Elektronenstrahl durch die Probe in große Winkelbereiche gestreut wurden, eine vergleichsweise intuitive Interpretation der experimentellen Intensität. Dies wird...

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Autore principale: Fritz, Rafael
Altri autori: Volz, Kerstin (Prof. Dr.) (Relatore della tesi)
Natura: Dissertation
Lingua:tedesco
Pubblicazione: Philipps-Universität Marburg 2014
Soggetti:
composition
III-V
Quantifizierung
semiconductor
Halbleiterphysik
Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie
Zusammensetzung
STEM
HAADF
Elektronenmikroskopie
Verbindungshalbleiter
Naturwissenschaften
Natural sciences & mathematics
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Collocazione: urn:nbn:de:hebis:04-z2014-03815
Data di pubblicazione: 2014-09-08
Datum der Annahme: 2014-07-09
Downloads: 64 (2024), 137 (2023), 132 (2022), 146 (2021), 150 (2020), 229 (2019), 170 (2018)
Lizenz: https://rightsstatements.org/vocab/InC-NC/1.0/
URL di accesso: https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2014/0381
https://doi.org/10.17192/z2014.0381

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