Quantitative Untersuchungen der Zusammensetzung von kubischen III/V-Verbindungshalbleitern mittels HAADF-STEM

Quantitative Untersuchungen der Zusammensetzung von kubischen III/V-Verbindungshalbleitern mittels HAADF-STEM

In der Raster-Transmissionselektronenmikroskopie (STEM) erlaubt insbesondere die Detektion von jenen Elektronen, die aus dem konvergenten Elektronenstrahl durch die Probe in große Winkelbereiche gestreut wurden, eine vergleichsweise intuitive Interpretation der experimentellen Intensität. Dies wird...

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מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Fritz, Rafael
מחברים אחרים: Volz, Kerstin (Prof. Dr.) (BetreuerIn (Doktorarbeit))
פורמט: Dissertation
שפה:גרמנית
יצא לאור: Philipps-Universität Marburg 2014
נושאים:
composition
III-V
Quantifizierung
semiconductor
Halbleiterphysik
Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie
Zusammensetzung
STEM
HAADF
Elektronenmikroskopie
Verbindungshalbleiter
Naturwissenschaften
Natural sciences & mathematics
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פרטי מלאי ספרים מ
סימן המיקום: urn:nbn:de:hebis:04-z2014-03815
Publikationsdatum: 2014-09-08
Datum der Annahme: 2014-07-09
Downloads: 64 (2024), 137 (2023), 132 (2022), 146 (2021), 150 (2020), 229 (2019), 170 (2018)
Lizenz: https://rightsstatements.org/vocab/InC-NC/1.0/
Zugangs-URL: https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2014/0381
https://doi.org/10.17192/z2014.0381

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