Quantitative Untersuchungen der Zusammensetzung von kubischen III/V-Verbindungshalbleitern mittels HAADF-STEM

Quantitative Untersuchungen der Zusammensetzung von kubischen III/V-Verbindungshalbleitern mittels HAADF-STEM

In der Raster-Transmissionselektronenmikroskopie (STEM) erlaubt insbesondere die Detektion von jenen Elektronen, die aus dem konvergenten Elektronenstrahl durch die Probe in große Winkelbereiche gestreut wurden, eine vergleichsweise intuitive Interpretation der experimentellen Intensität. Dies wird...

সম্পূর্ণ বিবরণ

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Fritz, Rafael
অন্যান্য লেখক: Volz, Kerstin (Prof. Dr.) (Thesis advisor)
বিন্যাস: Dissertation
ভাষা:জার্মান
প্রকাশিত: Philipps-Universität Marburg 2014
বিষয়গুলি:
composition
III-V
Quantifizierung
semiconductor
Halbleiterphysik
Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie
Zusammensetzung
STEM
HAADF
Elektronenmikroskopie
Verbindungshalbleiter
Naturwissenschaften
Natural sciences & mathematics
অনলাইন ব্যবহার করুন:পিডিএফ এ সম্পূর্ন পাঠ
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!

আন্তর্জাল

পিডিএফ এ সম্পূর্ন পাঠ

হোল্ডিংসের বিবরণ
ডাক সংখ্যা: urn:nbn:de:hebis:04-z2014-03815
প্রকাশনার তারিখ: 2014-09-08
Datum der Annahme: 2014-07-09
Downloads: 64 (2024), 137 (2023), 132 (2022), 146 (2021), 150 (2020), 229 (2019), 170 (2018)
Lizenz: https://rightsstatements.org/vocab/InC-NC/1.0/
URL ব্যবহার করুন: https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2014/0381
https://doi.org/10.17192/z2014.0381

অনুরূপ উপাদানগুলি