Quantitative Untersuchungen der Zusammensetzung von kubischen III/V-Verbindungshalbleitern mittels HAADF-STEM

Quantitative Untersuchungen der Zusammensetzung von kubischen III/V-Verbindungshalbleitern mittels HAADF-STEM

In der Raster-Transmissionselektronenmikroskopie (STEM) erlaubt insbesondere die Detektion von jenen Elektronen, die aus dem konvergenten Elektronenstrahl durch die Probe in große Winkelbereiche gestreut wurden, eine vergleichsweise intuitive Interpretation der experimentellen Intensität. Dies wird...

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التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Fritz, Rafael
مؤلفون آخرون: Volz, Kerstin (Prof. Dr.) (مرشد الأطروحة)
التنسيق: Dissertation
اللغة:الألمانية
منشور في: Philipps-Universität Marburg 2014
الموضوعات:
composition
III-V
Quantifizierung
semiconductor
Halbleiterphysik
Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie
Zusammensetzung
STEM
HAADF
Elektronenmikroskopie
Verbindungshalbleiter
Naturwissenschaften
Natural sciences & mathematics
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رقم الاستدعاء: urn:nbn:de:hebis:04-z2014-03815
تاريخ النشر: 2014-09-08
Datum der Annahme: 2014-07-09
Downloads: 64 (2024), 137 (2023), 132 (2022), 146 (2021), 150 (2020), 229 (2019), 170 (2018)
Lizenz: https://rightsstatements.org/vocab/InC-NC/1.0/
URL الوصول: https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2014/0381
https://doi.org/10.17192/z2014.0381

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