Quantitative Untersuchungen der Zusammensetzung von kubischen III/V-Verbindungshalbleitern mittels HAADF-STEM
In der Raster-Transmissionselektronenmikroskopie (STEM) erlaubt insbesondere die Detektion von jenen Elektronen, die aus dem konvergenten Elektronenstrahl durch die Probe in große Winkelbereiche gestreut wurden, eine vergleichsweise intuitive Interpretation der experimentellen Intensität. Dies wird...
Sparad:
Huvudupphovsman: | |
---|---|
Övriga upphovsmän: | |
Materialtyp: | Dissertation |
Språk: | tyska |
Publicerad: |
Philipps-Universität Marburg
2014
|
Ämnen: | |
Länkar: | PDF-fulltext |
Taggar: |
Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!
|
No citations were found for this record.