Die elektronische Struktur des amorph-kristallinen Silizium-Heterostruktur-Kontakts
In der vorliegenden Arbeit wurde die elektronische Zustandsdichte hydrogenisierter amorpher Silizium (a-Si:H)-Schichten mit Dicken von 300 bis hinab zu ~2 nm untersucht. Die dazu eingesetzte Methode der Nah-UV-Photoelektronenspektroskopie (NUV-PES) liefert eine gemittelte Valenzband-Zustandsdichte d...
Tallennettuna:
Päätekijä: | |
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Muut tekijät: | |
Aineistotyyppi: | Dissertation |
Kieli: | saksa |
Julkaistu: |
Philipps-Universität Marburg
2006
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Aiheet: | |
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