Investigation of light-induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Heck, Stephan
Định dạng: Dissertation
Ngôn ngữ:Tiếng Anh
Được phát hành: Philipps-Universität Marburg 2002
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:Bài toàn văn PDF
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!