Investigation of light-induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Автор: Heck, Stephan
Формат: Dissertation
Мова:англійська
Опубліковано: Philipps-Universität Marburg 2002
Предмети:
Онлайн доступ:PDF-повний текст
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!