Investigation of light-induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Heck, Stephan
Формат: Dissertation
Язык:английский
Опубликовано: Philipps-Universität Marburg 2002
Предметы:
Online-ссылка:PDF-полный текст
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!