Investigation of light-induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation

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書誌詳細
第一著者: Heck, Stephan
フォーマット: Dissertation
言語:英語
出版事項: Philipps-Universität Marburg 2002
主題:
オンライン・アクセス:PDFフルテキスト
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