Investigation of light-induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Heck, Stephan
פורמט: Dissertation
שפה:אנגלית
יצא לאור: Philipps-Universität Marburg 2002
נושאים:
גישה מקוונת:PDF-Volltext
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!