Investigation of light-induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteur principal: Heck, Stephan
Format: Dissertation
Langue:anglais
Publié: Philipps-Universität Marburg 2002
Sujets:
Accès en ligne:Texte intégral en PDF
Tags: Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!