Investigation of light-induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation

Wedi'i Gadw mewn:
Manylion Llyfryddiaeth
Prif Awdur: Heck, Stephan
Fformat: Dissertation
Iaith:Saesneg
Cyhoeddwyd: Philipps-Universität Marburg 2002
Pynciau:
Mynediad Ar-lein:Testun PDF llawn
Tagiau: Ychwanegu Tag
Dim Tagiau, Byddwch y cyntaf i dagio'r cofnod hwn!