Investigation of light-induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Heck, Stephan
Médium: Dissertation
Jazyk:angličtina
Vydáno: Philipps-Universität Marburg 2002
Témata:
On-line přístup:Plný text ve formátu PDF
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!