Investigation of light-induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autor principal: Heck, Stephan
Format: Dissertation
Idioma:anglès
Publicat: Philipps-Universität Marburg 2002
Matèries:
Accés en línia:PDF a text complet
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!