Quantitative Characterization of Nanometer-Scale Electric Fields via Momentum-Resolved STEM

Quantitative Characterization of Nanometer-Scale Electric Fields via Momentum-Resolved STEM

Most of today’s electronic devices, like solar cells and batteries, are based on nanometer-scale built-in electric fields. Accordingly, characterization of fields at such small scales has become an important task in the optimization of these devices. In this study, with GaAs-based p−n junctions as t...

Ամբողջական նկարագրություն

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Beyer, Andreas, Munde, Manveer Singh, Firoozabadi, Saleh, Heimes, Damien, Grieb, Tim, Rosenauer, Andreas, Müller-Caspary, Knut, Volz, Kerstin
Ձևաչափ: Հոդված
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: Philipps-Universität Marburg 2021
Խորագրեր:
momentum-resolved STEM
4DSTEM
electric field measurements
Physik
p−n junctions
transmission electron microscopy
Physics
Առցանց հասանելիություն:PDF ամբողջական տեքստ
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
No references were found for this record.

Նմանատիպ նյութեր