Quantitative Characterization of Nanometer-Scale Electric Fields via Momentum-Resolved STEM

Most of today’s electronic devices, like solar cells and batteries, are based on nanometer-scale built-in electric fields. Accordingly, characterization of fields at such small scales has become an important task in the optimization of these devices. In this study, with GaAs-based p−n junctions as t...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Beyer, Andreas, Munde, Manveer Singh, Firoozabadi, Saleh, Heimes, Damien, Grieb, Tim, Rosenauer, Andreas, Müller-Caspary, Knut, Volz, Kerstin
التنسيق: مقال
اللغة:الإنجليزية
منشور في: Philipps-Universität Marburg 2021
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:PDF النص الكامل
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!