Quantitative Characterization of Nanometer-Scale Electric Fields via Momentum-Resolved STEM
Most of today’s electronic devices, like solar cells and batteries, are based on nanometer-scale built-in electric fields. Accordingly, characterization of fields at such small scales has become an important task in the optimization of these devices. In this study, with GaAs-based p−n junctions as t...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , , , |
---|---|
التنسيق: | مقال |
اللغة: | الإنجليزية |
منشور في: |
Philipps-Universität Marburg
2021
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | PDF النص الكامل |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
No references were found for this record.