Simultaneous determination of local thickness and composition for ternary III-V semiconductors by aberration-corrected STEM

Simultaneous determination of local thickness and composition for ternary III-V semiconductors by aberration-corrected STEM

Scanning transmission electron microscopy (STEM) is a suitable method for the quantitative characterization of nanomaterials. For an absolute composition determination on an atomic scale, the thickness of the specimen has to be known locally with high accuracy. Here, we propose a method to determine...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Автори: Kükelhan, Pirmin, Beyer, Andreas, Firoozabadi, Saleh, Hepp, Thilo, Volz, Kerstin
Формат: Стаття
Мова:Англійська
Опубліковано: Philipps-Universität Marburg 2019
Предмети:
Physik
Physics
Онлайн доступ:PDF-повний текст
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!

Інтернет

PDF-повний текст

Детальна інфо про примірники із
Шифр: urn:nbn:de:hebis:04-es2021-00220
Дата публікації: 2021-11-03
Downloads: 37 (2024), 75 (2023), 59 (2022), 13 (2021)
Lizenz: https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0
Доступ через URL: https://archiv.ub.uni-marburg.de/es/2021/0022
https://doi.org/10.17192/es2021.0022

Схожі ресурси