Klues, M. (2010). Schichtdickenbestimmung dünner Metallfilme mittels Schwingquarzwaage, Lichtabschwächung und AFM. Philipps-Universität Marburg. https://doi.org/10.17192/ed.2010.0008
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Klues, Michael. Schichtdickenbestimmung Dünner Metallfilme Mittels Schwingquarzwaage, Lichtabschwächung Und AFM. Philipps-Universität Marburg, 2010. https://doi.org/10.17192/ed.2010.0008.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Klues, Michael. Schichtdickenbestimmung Dünner Metallfilme Mittels Schwingquarzwaage, Lichtabschwächung Und AFM. Philipps-Universität Marburg, 2010. https://doi.org/10.17192/ed.2010.0008.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.