Suchergebnisse - Volz, Kerstin

Growth Dynamics and Morphology of GaP Nanowires investigated via Transmission Electron Microscopy von Krug, David Peter

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Probing the Interface Evolution in Co-sintered All-Phosphate Cathode-Solid Electrolyte Composites von Malaki, Michael, Haust, Johannes, Beaupain, Jean Philippe, Auer, Henry, Beyer, Andreas, Wätzig, Katja, Kusnezoff, Mihails, Volz, Kerstin

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Kinking of GaP Nanowires Grown in an In Situ (S)TEM Gas Cell Holder von Krug, David, Widemann, Maximilian, Gruber, Felix, Ahmed, Shamail, Demuth, Thomas, Beyer, Andreas, Volz, Kerstin

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In-situ Transmission Electron Microscopy of Crystal Growth under MOVPE Conditions von Widemann, Maximilian

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Composition Determination of Semiconductors at Different Scattering Angles with the Help of Energy-Filtered STEM and Four-Dimensional STEM von Firoozabadi, Seyyed Salehedin

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Epitaxial Growth of Highly Mismatched Alloys on GaAs Substrates von Hepp, Thilo

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Quantitative Characterization of Nanometer-Scale Electric Fields via Momentum-Resolved STEM von Beyer, Andreas, Munde, Manveer Singh, Firoozabadi, Saleh, Heimes, Damien, Grieb, Tim, Rosenauer, Andreas, Müller-Caspary, Knut, Volz, Kerstin

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Optimization of imaging conditions for composition determination by annular dark field STEM von Firoozabadi, Saleh, Kükelhan, Pirmin, Hepp, Thilo, Beyer, Andreas, Volz, Kerstin

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Influence of plasmon excitations on atomic‑resolution quantitative 4D scanning transmission electron microscopy von Beyer, Andreas, Krause, Florian Fritz, Robert, Hoel R., Firoozabadi, Saleh, Grieb, Tim, Kükelhan, Pirmin, Heimes, Damien, Schowalter, Marco, Müller-Caspary, Knut, Rosenauer, Andreas, Volz, Kerstin

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Composition determination for quaternary III-V semiconductors by aberration-corrected STEM von Duschek, Lennart, Beyer, Andreas, Oelerich, Jan Oliver, Volz, Kerstin

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Simultaneous determination of local thickness and composition for ternary III-V semiconductors by aberration-corrected STEM von Kükelhan, Pirmin, Beyer, Andreas, Firoozabadi, Saleh, Hepp, Thilo, Volz, Kerstin

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Segregation at interfaces in (GaIn)As/Ga(AsSb)/(GaIn)As- quantum well heterostructures explored by atomic resolution STEM von Kükelhan, Pirmin, Firoozabadi, Saleh, Beyer, Andreas, Duschek, Lennart, Fuchs, Christian, Oelerich, Jan Oliver, Stolz, Wolfgang, Volz, Kerstin

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Investigation of the Surface Reconstruction and Gas Phase Composition during Growth by MOVPE von Maßmeyer, Oliver Peter

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Analysis of Strain Relaxation, Ion Beam Damage and Instrument Imperfections for Quantitative STEM Characterizations von Belz, Jürgen

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Methods and challenges in STEM composition determination of III/V semiconductors via complementary multislice simulations von Duschek, Lennart

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Quantitative Scanning Transmission Electron Microscopy for III-V Semiconductor Heterostructures Utilizing Multi-Slice Image Simulations von Kükelhan, Pirmin

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(Ga,In)(N,As,Sb) Solar Cells: N Incorporation using Novel Precursor in MOVPE Growth and Solar Cell Characteristics von Sterzer, Eduard

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In Situ Thermal Annealing and Growth Investigations on III/V Semiconductor Materials von Straubinger, Rainer

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MOVPE Growth Studies on Dilute Bismide Containing III/Vs & Development of an MOVPE In-Situ Gas Phase Analysis Setup von Nattermann, Lukas Klaus

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Quantitative Evaluation of the Interfaces in III/V Semiconductors with Scanning Transmission Electron Microscopy von Han, Han

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