Titel: | Über die Methode des Bombardement Induzierten Ionentransports (BIIT) und ihre Anwendung auf alkaliionenleitende Borat- und Calciumphosphatgläser |
Autor: | Budina, David Thomas Stefan |
Weitere Beteiligte: | Weitzel, Karl-Michael (Prof. Dr.) |
Veröffentlicht: | 2018 |
URI: | https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2018/0111 |
DOI: | https://doi.org/10.17192/z2018.0111 |
URN: | urn:nbn:de:hebis:04-z2018-01113 |
DDC: | 540 Chemie |
Titel(trans.): | Study on the method of Bombardment Induced Ion Transport (BIIT) and its application on alkali ion conducting borate and calcium phosphate glasses |
Publikationsdatum: | 2018-05-03 |
Lizenz: | https://rightsstatements.org/vocab/InC-NC/1.0/ |
Schlagwörter: |
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Arr, quantitative, ToF-SIMS, Verarmun, Alkalimetallion, Raumladung, ToF-SIMS, Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie, Kontaktspannung, Konzentrationsprofil, Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, Poisson-Gleichung, Sekundärionen-Massenspektrometrie, BIIT, Bombardment Induced Iontransport, quantitativ, depletion, concentration profile, BIIT, Bombardement Induzierter Ionentransport, Thermionische Emission, Ionentransport |
Zusammenfassung:
Diese Doktorarbeit konzentriert sich auf die neuartige Methode namens Bombardement
Induzierten Ionentransports (BIIT). Die Methode wurde technisch weiterentwickelt und
ihr Potential und ihre Fehlergrenzen diskutiert.
Die Methode nutzt einen thermionischen Emitter, um einen Alkaliionenstrahl mit definierter,
niedriger kinetischer Energie zu erzeugen. Dieser Strahl lädt die Oberfläche eines
Festkörperelektrolyten (z.B. ein ionenleitendes Glas) im Hochvakuum auf. Es fließt
ein Neutralisationsstrom abhängig von der Beschleunigungsspannung. Dies führt zu einer
linearen Strom-Spannungs-Kennlinie, aus der die temperaturabhängige Gleichstromleitfähigkeit
des Materials gewonnen werden kann. Typischerweise schneidet die Kennlinie die Spannungsachse
nicht bei 0 V, sondern im Bereich von +1 V bis +4 V. Dieses Phänomen wird als Spannungsoffset
bezeichnet.
Diese Arbeit behandelt drei Schwerpunkte von BIIT: Zunächst wurde die Messung von
Leitfähigkeiten optimiert. Ein Hochtemperatur-Probenhalter wurde entwickelt, welcher
das zugängliche Messfenster für BIIT auf Temperaturen bis zu 260 °C (533 K) erweitert.
Indem der Potentialunterschied zwischen Probenvorderseite und -rückseite auf Werte
bis 100 mV reduziert wurde, wurden Leitfähigkeiten bis maximal 2·10^-10 S/cm messbar.
Die Reproduzierbarkeit der Leitfähigkeitsmessung wurde überprüft und die experimentellen
Abweichungen zwischen BIIT und Impedanzspektroskopie diskutiert. Um den Aufladeprozess
bei BIIT zu untersuchen, wurde ein experimentelles Modellsystem entwickelt, welches
aus einer Metallelektrode in Reihe mit einem ohmschen Widerstand besteht.
Als zweiter Schwerpunkt wurde der Spannungsoffset genauer untersucht. Hierzu wurden
Metallelektroden (Pt, Au, Cu, Ag) mit K+, Rb+ und Cs+ beschossen. Der Spannungsoffset
wurde abhängig von Elektrodenmaterial und Beschusszeit bzw. abgeschiedener Ladung
analysiert. Unabhängig vom Elektrodenmaterial stieg der Offset zügig mit der Zeit
an und wurde nach einer Verschiebung von etwa 1.7V konstant. Durch Verwendung einer
Referenzelektrode konnte gezeigt werden, dass die Verschiebung mit dem Beschuss der
Elektrode zusammenhängt. Die Beobachtungen zum Spannungsoffset am Experimentbeginn
waren nicht eindeutig: Entweder hängt dieser nicht vom Elektrodenmaterial ab, oder
er sinkt wenn die elektronische Austrittsarbeit des Materials steigt. Basierend auf
der Elektronenemission wurde ein theoretisches Modell für BIIT entwickelt, um hiermit
Phänomene wie den Spannungsoffset zu erklären. Bei dem Offset könnte es sich um die
Volta-Spannung (bzw. Kontaktpotential) oder eine elektromotorische Kraft handeln.
Als dritter Schwerpunkt wurde die BIIT-Methode genutzt, um Konzentrationsprofile in
Gläsern zu erzeugen. Wenn das Glas mit einem fremden Alkaliion beschossen wird, so
ersetzt dieses das native Alkaliion, welches zu Beginn des Experiments im Glas vorlag.
Dies führt zu einer typischerweise 150nm tiefen Verdrängungszone, in welcher bsi zu
80% des nativen Ions ersetzt wurden. Die erzeugten Profile werden mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie
(ToF-SIMS) gemessen und anschließend auf Basis der Nernst-Planck- und Poisson-Gleichung
(NPP) nummerisch modelliert. Der erhaltene NPP-Diffusionskoeffizient eines der beiden
Alkaliionen erscheint hierbei systematisch als konstant, während der andere stark
von der lokalen Zusammensetzung abhängt. Es wurden die Calciumphoshatgläser Ca30-K
und Ca30-Rb (0.25 M2O · 0.30 CaO · 0.45 P2O5 mit M = K, Rb) und das Mischalkali-Boratglas
16Na04Rb80B (0.16 Na2O · 0.04 Rb2O · 0.8B2O3) untersucht.
Durch ein Vergleichsexperiment Rb@Ca30-K vs. K@Ca30-Rb konnte gezeigt werden, dass
in beiden Fällen der Diffusionskoeffizient von Rubidium konstant erscheint. Die Konstanz
ist somit nicht eine Eigenschaft des Bombarder-Ions. Daher wurde die physikalische
Natur des NPP-Diffusionskoeffizienten untersucht und diskutiert. Durch Analyse des
NPP-Modells wurde klar, dass das Modell sehr empfindlich auf das Verhältnis der Diffusionskoeffizienten
reagiert, aber unempfindlich auf deren absolute Höhe. Prinzipiell wäre es somit möglich,
dass die Konzentrationsabhängigkeit des zweiten Diffusionskoeffizienten übersehen
wird. Die Alkaliboratgläser wurden mit Rb+ beschossen und so erstmals temperaturabhängige
NPP-Diffusionskoeffizienten gewonnen. Diese wurden mit Literaturwerten aus Impedanzspektroskopie
und Radiotracer-Diffusion (RTD) verglichen, welche aus Studien zum Mischalkalieffekt
in diesem Glassystem bekannt sind. Die Unsicherheit, die sich aus der Umrechnung der
SIMS-Daten in Konzentrationsprofile ergibt, wird quantitativ bestimmt. Außerdem werden
die Ergebnisse der BIIT-NPPMethode ausführlich auf ihre Selbstkonsistenz überprüft,
z.B. ob die Diffusionskoeffizienten Arrhenius-Verhalten zeigen oder ob die laut Neutralisationsstrom
eingebrachte Ladungsmenge mit der im Konzentrationsprofil gefundenen Ladungsmenge
übereinstimmt.
Summary:
This thesis focuses on a new method called Bombardment Induced Iontransport (BIIT).
The method is being improved and its potential and error margins are analyzed.
The method uses a thermionic emitter to generate an alkali ion beam of controlled,
low kinetic energy. This beam charges the surface of a solid state electrolyte such
as an ion-conducting glass in high vacuum. Depending on the acceleration voltage,
a neutralization current will flow. This results in a linear current-voltage curve,
which yields the temperature dependent dc-conductivity of the material. Typically,
this curve does not cross the voltage axis at 0 V, but at values between +1 V and
+4 V. This phenomenon is referred to as voltage offset.
This thesis deals with three key aspects of BIIT: First of all, the measurement of
conductivities was optimized. A high temperature sample holder was developed to increase
the accessible measurement window to temperatures up to 260 °C (533 K). By reducing
the voltage difference between sample surface and backside to values of down to 100
mV, conductivities of up to 2 · 10^-10 S/cm were measured. The reproducibility of
conductivity measurements was verified and the experimental deviations between BIIT
and impedance spectroscopy were discussed. In order to examine the charging process
in BIIT, an experimental model system was developed, which consists of a metal electrode
in series with an ohmic resistor.
As second key aspect, the voltage offset was surveyed. Different metal electrodes
(Pt, Au, Cu, Ag) were bombarded with K+, Rb+ and Cs+. The voltage offset was analyzed
as a function of electrode material and of time or deposited charge. Independently
of the material, the voltage offset rapidly increased with time and became constant
after a shift of roughly 1.7 V. By using a reference electrode, it was shown that
this shift occurs due to the bombardment. The observations for the voltage offset
at the beginning of the experiment were ambiguous: Either it does not depend on the
electrode material, or it decreases as the electronic work function of the material
increases. Based on electron emission, a theoretical model for BIIT was developed,
in order to explain phenomena such as the voltage offset. The voltage offset might
be the Volta potential difference (or contact potential) or an electromotive force.
As third key aspect, the BIIT method was used to create concentration profiles in
glasses. By bombarding the glass with a foreign alkali ion, this ion will replace
the native ion, which was present in the glass at the beginning of the experiment.
This typically results in a roughly 150 nm deep depletion layer, in which up to 80%
of the native ion were substituted. The created concentration profiles were measured
using Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and numerically modeled
using the Nernst-Planck- and Poisson equation. The resulting NPP diffusion coefficient
of one of the alkali ions systematically appeared to be constant, whereas the other
strongly depends on the local composition.
The calcium phosphate glasses Ca30-K and Ca30-Rb (0.25 M2O · 0.30 CaO · 0.45 P2O5
with M = K, Rb) and the mixed alkali borate glass 16Na04Rb80B (0.16 Na2O · 0.04Rb2O
· 0.8B2O3) were studied. In a comparative experiment Rb@Ca30-K vs. K@Ca30-Rb, it has
been shown that in both cases the rubidium diffusion coefficient appears constant.
Therefore, the constancy does not depend on whether the ion is the bombarder or native.
The physical nature of the NPP diffusion coefficient was thus analyzed and discussed.
By analyzing the NPP model, it became clear that the model is very sensitive to changes
in the ratio of both diffusion coefficients. However, it’s not very sensitive to their
absolute values. In principle, the concentration dependence of the second diffusion
coefficient could be overlooked this way.
The alkali borate glasses were bombarded with Rb+, yielding for the first time temperature
dependent NPP diffusion coefficients. These were compared to literature values from
impedance spectroscopy and radio tracer diffusion (RTD), since those diffusion coefficients
are known from studies of the mixed alkali effect in this glass system. The uncertainty
that arises from converting SIMS data into concentration profiles was quantified.
Furthermore the results of the BIIT-NPP-method were at length checked for self-consistency,
for example whether the diffusion coefficients show Arrhenius behavior or whether
the deposited charge resulting from the neutralization current agrees with the charge
found in the SIMS profiles.
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