Publikationsserver der Universitätsbibliothek Marburg

Titel:Untersuchungen zum strukturkorrelierten Ionentransport mittels BIIT und ToF-SIMS durch ultradünne Polymerfilme
Autor:Wesp, Veronika
Weitere Beteiligte: Weitzel, Karl-Michael (Prof. Dr.)
Veröffentlicht:2015
URI:https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2015/0356
DOI: https://doi.org/10.17192/z2015.0356
URN: urn:nbn:de:hebis:04-z2015-03569
DDC: Chemie
Titel(trans.):Investigation of the structure correlated ion transport through ultra thin polymer films by BIIT and ToF-SIMS
Publikationsdatum:2015-07-09
Lizenz:https://rightsstatements.org/vocab/InC-NC/1.0/

Dokument

Schlagwörter:
Leitfähigkeit, Polymere, Ladung, Struktur, Interphase, Porosität, Grenzfläche, current-voltage curve, NIPs, U-I-Kurven, BIIT, ToF-SIMS, Ionentransport, Aktivierungsenergie, ToF-SIMS, NIPs, BIIT, Parylene, Polyelektrolyt

Zusammenfassung:
Gegenstand dieser Arbeit sind die Untersuchungen von sehr dünnen deponierten Polymerfilmen im Bereich von 4 nm bis etwa 400 nm und deren Einfluss auf den Ionentransport bei der Variation der Dicke des Polymerfilms, beim Wechsel des Materials der verwendeten Rückseitenelektrode und der Art des Emitterions. Explizit stehen das thermoplastische, oberfächenkonforme, semikristalline Polymer Polyparaxylol (PPX) und die Polymerelektrolyt-membranen (PAH/PSS)n bestehend aus Schichten von Poly(allylaminhydrochlorid) und Poly(styrol-4-natriumsulfonat) im Fokus der Arbeit. Die verwendeten Messtechniken beinhalten den in der AG Weitzel entwickelten Bombardement induzierten Ionentransport (BIIT) zum Beschuss der deponierten Polymerfilme mit einem homogenen niederenergetischen Alkaliionenstrahl. Anschließend erfolgt die Vermessung der bombardierten Proben mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS) zur Ermittlung der räumlichen Konzentrationsverteilung. Über die BIIT-Technik lassen sich Strom-Zeit- und Strom-Spannungs-Kurven aufnehmen durch welche Rückschlüsse auf die strukturelle Beschaffenheit des Polymers gezogen werden können. Aus den Strom-Zeit-Kurven können die Zeitkonstanten τ und die eingetragenen Ladungsmengen Q in Abhängigkeit von der strukturellen Beschaffenheit des Polymers und durch die Verwendung unterschiedlicher metallischer Substrate ermittelt werden. Insbesondere kann in dieser Arbeit erstmalig der Unterschied von Proben mit durchgehenden Korngrenzen, den NIPs (engl. non-intermittent pathways), und Proben ohne NIPs in Form von linearen und quadratischen Strom-Spannungs-Kurven dargestellt und über ToF-SIMS Tiefenprofilierung visualisiert werden. Aus den Strom-Spannungs-Kurven werden die Diffusionskonstanten und die Aktivierungsenergie aus temperaturabhängigen Messungen in Bezug auf das verwendete Alkaliion und das verwendete Substrat ermittelt. Ex-situ erfolgt eine Tiefenprofilierung der durch BIIT bestrahlten Proben. Durch die geringe Dicke der Polymerfilme kann erstmalig die Ausbildung einer Alkaliion beinhaltenden Interphase, analog zur SEI (engl. solid electrolyte interphase), als Resultat der Neutralisation der Alkaliionen an der Rückseitenelektrode via ToF-SIMS betrachtet werden. Daneben werden in dieser Arbeit die Einflüsse auf die Strom-Spannungs-Kurven durch den Wechsel des Substratmaterials und den Wechsel des Emitterions hinsichtlich der elektrochemischen Beschreibung des BIIT Experiments und gemäß ihrer unterschiedlichen Diffusionskonstanten diskutiert. Durch die Kopplung von BIIT und anschließender ToF-SIMS Tiefenprofilierung können gezielt die Mischbarkeiten bzw. Unmischbarkeiten von Metall-Metallsystemen untersucht werden. Für die (PAH/PSS)n-Schichten werden in dieser Arbeit dickenabhängige und temperaturabhängige Leitfähigkeitsstudien mittels BIIT aufgezeigt und in Hinblick auf die Präparationsmethode diskutiert.

Summary:
The central aspect of this thesis is the investigation of ultra-thin deposited polymer films in the range between 4 nm to 400 nm and its influence on the ion transport by varying the thickness of the polymer film, the material of the backside electrode and the species of the emitted ions. Explicitly, the thermoplastic, surface conform and semi crystalline polymer poly-para-xylylene (PPX) and the polyelectrolyte multilayer (PAH/PSS)n consisting of layers of poly(allylamine hydrochloride) and poly(sodium 4-styrenesulfonate) are investigated extensively. The measurement techniques applied in this work are on the one hand the bombardment induced ion transport (BIIT) which has been established in the working group of Prof. Dr. Weitzel and results in a homogeneous, low-energetic alkaline ion beam hitting the polymer surface. On the other hand, ex-situ measurements of the bombarded polymer samples are performed via time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) in order to obtain space-dependent concentration profiles. BIIT technique enables the generation of current-time- and current-voltage-curves structural characteristics of the samples can be derived from. Time constants τ and the amount of inserted charge Q into the PPX-Films can be obtained from current-time-curves as a function of the PPX structure and of the underlying metallic substrate. In this work the differences of samples with non-intermittent pathways (NIPs) and samples with no NIPs can be distinguished by different behavior of the current-voltage-curves and are visualized by ToF-SIMS depth profiling. A linear current-voltage-characteristic is obtained if NIPs are dominating the sample. If the bulk material of the polymer is dominating, a quadratic current-voltage curve can be fitted. Furthermore the diffusion constant and the activation energy of temperature dependent measurements can be derived from the current-voltage-characteristics as a function of the used alkaline ion and the used substrate. Ex-situ depth profiling with ToF-SIMS on BIIT long-time bombarded samples allows to get insight in the concentration distribution within the samples. Due to the low extend of the polymer layers the formation of an alkali ion interphase, analogous to the solid electrolyte interphase (SEI) in batteries, can be observed via ToF-SIMS depth profiling for the first time. The interphase is formed between the polymer film and the metal substrate as a consequence of the alkaline ion neutralization at the backside electrode. Further investigations consider the behavior of current-voltage-curves as a function of the underlying substrate material and the type of emitted ion in comparison to the electrochemical description of BIIT experiment and the different diffusion coefficients. The interconnection of BIIT and ToF-SIMS measurements allows to obtain information about miscibility and immiscibility of metal-metal-systems. For (PAH/PSS)n systems thickness- and temperature-dependent conductivity studies are performed by BIIT and discussed as a function of their preparation method.


* Das Dokument ist im Internet frei zugänglich - Hinweise zu den Nutzungsrechten