Methods and challenges in STEM composition determination of III/V semiconductors via complementary multislice simulations

Die erfolgreiche und kontinuierliche Verbesserung moderner Halbleiterbauelemente hängt wesentlich von der Fähigkeit ab, Materialeigenschaften so genau wie möglich beobachten und beschreiben zu können und dieses Verständnis als Grundlage für neue Entwicklungen nutzen zu können. Komplexe Halbleiterba...

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Sábháilte in:
Sonraí bibleagrafaíochta
Príomhchruthaitheoir: Duschek, Lennart
Rannpháirtithe: Volz, Kerstin (Prof. Dr.) (Comhairleoir tráchtais)
Formáid: Dissertation
Teanga:Gearmáinis
Foilsithe / Cruthaithe: Philipps-Universität Marburg 2019
Ábhair:
Rochtain ar líne:An téacs iomlán mar PDF
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