Structural analysis of dilute bismide alloys by means of high resolution scanning transmission electron microscopy

Structural analysis of dilute bismide alloys by means of high resolution scanning transmission electron microscopy

Energy efficiency plays a key role in the development of new industrial as well as daily life applications. There exists a strong demand for a new energy efficient generation of optoelectronic devices, especially in the growing market of internet data transfer where devices operate in the 1.55 µm...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Автор: Knaub, Nikolai
Інші автори: Volz, Kerstin (Prof. Dr.) (Керівник дипломної роботи)
Формат: Dissertation
Мова:англійська
Опубліковано: Philipps-Universität Marburg 2016
Предмети:
semiconductor physics
Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie
Halbleiterphysik
Verdünnte Legierung
dilute bismide alloys
III-V semiconductors
Bismut
Verbindungshalbleiter
Physik
Scanning transmission electron microscopy
Physics
Онлайн доступ:PDF-повний текст
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!

Інтернет

PDF-повний текст

Детальна інфо про примірники із
Шифр: urn:nbn:de:hebis:04-z2016-06566
Дата публікації: 2016-09-29
Datum der Annahme: 2016-06-23
Downloads: 103 (2024), 110 (2023), 38 (2022), 42 (2021), 33 (2020), 22 (2019), 11 (2018)
Lizenz: https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0
Доступ через URL: https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2016/0656
https://doi.org/10.17192/z2016.0656

Схожі ресурси