Structural analysis of dilute bismide alloys by means of high resolution scanning transmission electron microscopy

Structural analysis of dilute bismide alloys by means of high resolution scanning transmission electron microscopy

Energy efficiency plays a key role in the development of new industrial as well as daily life applications. There exists a strong demand for a new energy efficient generation of optoelectronic devices, especially in the growing market of internet data transfer where devices operate in the 1.55 µm...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Knaub, Nikolai
Kolejni autorzy: Volz, Kerstin (Prof. Dr.) (Promotor doktoranta)
Format: Dissertation
Język:angielski
Wydane: Philipps-Universität Marburg 2016
Hasła przedmiotowe:
semiconductor physics
Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie
Halbleiterphysik
Verdünnte Legierung
dilute bismide alloys
III-V semiconductors
Bismut
Verbindungshalbleiter
Physik
Scanning transmission electron microscopy
Physics
Dostęp online:PDF pełnotekstowe
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

Internet

PDF pełnotekstowe

Szczegóły zapisu
Sygnatura: urn:nbn:de:hebis:04-z2016-06566
Data wydania: 2016-09-29
Datum der Annahme: 2016-06-23
Downloads: 102 (2024), 110 (2023), 38 (2022), 42 (2021), 33 (2020), 22 (2019), 11 (2018)
Lizenz: https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0
URL dostępu: https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2016/0656
https://doi.org/10.17192/z2016.0656

Podobne zapisy