Structural analysis of dilute bismide alloys by means of high resolution scanning transmission electron microscopy

Structural analysis of dilute bismide alloys by means of high resolution scanning transmission electron microscopy

Energy efficiency plays a key role in the development of new industrial as well as daily life applications. There exists a strong demand for a new energy efficient generation of optoelectronic devices, especially in the growing market of internet data transfer where devices operate in the 1.55 µm...

Бүрэн тодорхойлолт

-д хадгалсан:
Номзүйн дэлгэрэнгүй
Үндсэн зохиолч: Knaub, Nikolai
Бусад зохиолчид: Volz, Kerstin (Prof. Dr.) (Дипломын ажлын зөвлөх)
Формат: Dissertation
Хэл сонгох:англи
Хэвлэсэн: Philipps-Universität Marburg 2016
Нөхцлүүд:
semiconductor physics
Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie
Halbleiterphysik
Verdünnte Legierung
dilute bismide alloys
III-V semiconductors
Bismut
Verbindungshalbleiter
Physik
Scanning transmission electron microscopy
Physics
Онлайн хандалт:PDF-н бүрэн текст
Шошгууд: Шошго нэмэх
Шошго байхгүй, Энэхүү баримтыг шошголох эхний хүн болох!

Интернэт

PDF-н бүрэн текст

-с авсан түр хойшлуулсан зүйлсийн дэлгэрэнгүй мэдээлэл
Зохиогчийн тэмдэгт: urn:nbn:de:hebis:04-z2016-06566
Хэвлэлийн огноо: 2016-09-29
Datum der Annahme: 2016-06-23
Downloads: 103 (2024), 110 (2023), 38 (2022), 42 (2021), 33 (2020), 22 (2019), 11 (2018)
Lizenz: https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0
Хандалтын URL: https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2016/0656
https://doi.org/10.17192/z2016.0656

Ижил төстэй зүйлс