Structural analysis of dilute bismide alloys by means of high resolution scanning transmission electron microscopy

Structural analysis of dilute bismide alloys by means of high resolution scanning transmission electron microscopy

Energy efficiency plays a key role in the development of new industrial as well as daily life applications. There exists a strong demand for a new energy efficient generation of optoelectronic devices, especially in the growing market of internet data transfer where devices operate in the 1.55 µm...

Descripción completa

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Knaub, Nikolai
Otros Autores: Volz, Kerstin (Prof. Dr.) (Orientador)
Formato: Dissertation
Lenguaje:inglés
Publicado: Philipps-Universität Marburg 2016
Materias:
semiconductor physics
Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie
Halbleiterphysik
Verdünnte Legierung
dilute bismide alloys
III-V semiconductors
Bismut
Verbindungshalbleiter
Physik
Scanning transmission electron microscopy
Physics
Acceso en línea:Texto Completo PDF
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

Texto Completo PDF

Detalle de Existencias desde
Número de Clasificación: urn:nbn:de:hebis:04-z2016-06566
Fecha de Publicación: 2016-09-29
Datum der Annahme: 2016-06-23
Downloads: 102 (2024), 110 (2023), 38 (2022), 42 (2021), 33 (2020), 22 (2019), 11 (2018)
Lizenz: https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0
URL de Acceso: https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2016/0656
https://doi.org/10.17192/z2016.0656

Ejemplares similares