Surface-Assisted Chemistry at Interfaces between Metals and Organic Thin Films

Surface-Assisted Chemistry at Interfaces between Metals and Organic Thin Films

Interfaces between metals and organic thin films are of paramount importance for organic electronic devices. By photoemission spectroscopy (XPS), scanning tunneling microscopy/spectroscopy (STM/STS), temperature programmed desorption/reaction (TPD/TPR) and density functional theory calculations (DFT...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Chen, Min
Другие авторы: Gottfried, J. Michael (Prof. Dr.) (Научный руководитель)
Формат: Dissertation
Язык:английский
Опубликовано: Philipps-Universität Marburg 2016
Предметы:
Metallier
Corrol
Porphyrine
Ullmann-Kupplung
depth profile
metal-organic interface
Ullmann-reaction
Grenzphase
HAXPES
interphase
Tiefenprofil
Phthalocyanin
Rastertunnelmikroskopie
Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
Chemie
Thermische Desorptionsspektroskopie
Metallorganische Grenzschicht
Chemistry & allied sciences
Online-ссылка:PDF-полный текст
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
No references were found for this record.

Схожие документы