Surface-Assisted Chemistry at Interfaces between Metals and Organic Thin Films

Surface-Assisted Chemistry at Interfaces between Metals and Organic Thin Films

Interfaces between metals and organic thin films are of paramount importance for organic electronic devices. By photoemission spectroscopy (XPS), scanning tunneling microscopy/spectroscopy (STM/STS), temperature programmed desorption/reaction (TPD/TPR) and density functional theory calculations (DFT...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Chen, Min
מחברים אחרים: Gottfried, J. Michael (Prof. Dr.) (BetreuerIn (Doktorarbeit))
פורמט: Dissertation
שפה:אנגלית
יצא לאור: Philipps-Universität Marburg 2016
נושאים:
Metallier
Corrol
Porphyrine
Ullmann-Kupplung
depth profile
metal-organic interface
Ullmann-reaction
Grenzphase
HAXPES
interphase
Tiefenprofil
Phthalocyanin
Rastertunnelmikroskopie
Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
Chemie
Thermische Desorptionsspektroskopie
Metallorganische Grenzschicht
Chemistry & allied sciences
גישה מקוונת:PDF-Volltext
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
No references were found for this record.

פריטים דומים