Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)

Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)

In dieser Arbeit wird das Verhalten von ionenleitenden, bioaktiven Gläsern und Polymermembranen untersucht. Dabei kommt hauptsächlich die Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS) zum Einsatz. Damit kann eine dreidimensionale Darstellung der Elementverteilung in einer Probe geschaffen we...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Zakel, Julia
מחברים אחרים: Roling, Bernhard (Prof. Dr.) ; Weitzel, Karl-Michael (Prof. Dr.) (BetreuerIn (Doktorarbeit))
פורמט: Dissertation
שפה:גרמנית
יצא לאור: Philipps-Universität Marburg 2014
נושאים:
depth profiling
Leitfähigkeit
ion conducting glasses
ToF-SIMS
Gläser
Chemie
Tiefenprofilierung
Chemistry & allied sciences
גישה מקוונת:PDF-Volltext
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
No references were found for this record.

פריטים דומים