Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)

Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)

In dieser Arbeit wird das Verhalten von ionenleitenden, bioaktiven Gläsern und Polymermembranen untersucht. Dabei kommt hauptsächlich die Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS) zum Einsatz. Damit kann eine dreidimensionale Darstellung der Elementverteilung in einer Probe geschaffen we...

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Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Zakel, Julia
Outros autores: Roling, Bernhard (Prof. Dr.) ; Weitzel, Karl-Michael (Prof. Dr.) (BetreuerIn (Doktorarbeit))
Formato: Dissertation
Idioma:alemán
Publicado: Philipps-Universität Marburg 2014
Schlagworte:
depth profiling
Leitfähigkeit
ion conducting glasses
ToF-SIMS
Gläser
Chemie
Tiefenprofilierung
Chemistry & allied sciences
Acceso en liña:Texto completo PDF
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