Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)
In dieser Arbeit wird das Verhalten von ionenleitenden, bioaktiven Gläsern und Polymermembranen untersucht. Dabei kommt hauptsächlich die Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS) zum Einsatz. Damit kann eine dreidimensionale Darstellung der Elementverteilung in einer Probe geschaffen we...
Gorde:
Egile nagusia: | |
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Beste egile batzuk: | |
Formatua: | Dissertation |
Hizkuntza: | alemana |
Argitaratua: |
Philipps-Universität Marburg
2014
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Gaiak: | |
Sarrera elektronikoa: | PDF testu osoa |
Etiketak: |
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