Hochaufgelöste transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen an Galliumphosphid auf Silizium
In dieser Arbeit wurden GaP/Si-Heterostrukturen, die mittels MOVPE gewachsen wurden, mit Hilfe verschiedener TEM-Methoden untersucht. Die HAADF-Technik hat sich als geeignete Methode zur Untersuchung der Grenzfläche und Auftreten der APDs auf atomarer Skala erwiesen. Trotz der oft gelobten intuitive...
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Glavni autor: | |
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Daljnji autori: | |
Format: | Dissertation |
Jezik: | njemački |
Izdano: |
Philipps-Universität Marburg
2012
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Teme: | |
Online pristup: | PDF cijeli tekst |
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