Transmission electron microscopic investigations of heteroepitaxial III/V semiconductor thin layer and quantum well structures
The first part of the thesis presents compositional evaluation of ternary quantum well structures grown on GaAs and GaP substrates using the chemical sensitive 002 dark field imaging in Transmission Electron Microscopy (TEM). The composition retrieved by the dark field intensity measurements and the...
Збережено в:
Автор: | |
---|---|
Інші автори: | |
Формат: | Dissertation |
Мова: | англійська |
Опубліковано: |
Philipps-Universität Marburg
2008
|
Предмети: | |
Онлайн доступ: | PDF-повний текст |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
No citations were found for this record.