Transmission electron microscopic investigations of heteroepitaxial III/V semiconductor thin layer and quantum well structures

The first part of the thesis presents compositional evaluation of ternary quantum well structures grown on GaAs and GaP substrates using the chemical sensitive 002 dark field imaging in Transmission Electron Microscopy (TEM). The composition retrieved by the dark field intensity measurements and the...

Ful tanımlama

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Yazar: Németh Igor
Diğer Yazarlar: Volz, Kerstin (Dr.) (Tez danışmanı)
Materyal Türü: Dissertation
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: Philipps-Universität Marburg 2008
Konular:
Online Erişim:PDF Tam Metin
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!