Transmission electron microscopic investigations of heteroepitaxial III/V semiconductor thin layer and quantum well structures

The first part of the thesis presents compositional evaluation of ternary quantum well structures grown on GaAs and GaP substrates using the chemical sensitive 002 dark field imaging in Transmission Electron Microscopy (TEM). The composition retrieved by the dark field intensity measurements and the...

Πλήρης περιγραφή

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Németh Igor
Άλλοι συγγραφείς: Volz, Kerstin (Dr.) (Εισηγητής διατριβής)
Μορφή: Dissertation
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: Philipps-Universität Marburg 2008
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Πλήρες κείμενο PDF
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!