Transmission electron microscopic investigations of heteroepitaxial III/V semiconductor thin layer and quantum well structures

The first part of the thesis presents compositional evaluation of ternary quantum well structures grown on GaAs and GaP substrates using the chemical sensitive 002 dark field imaging in Transmission Electron Microscopy (TEM). The composition retrieved by the dark field intensity measurements and the...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Németh Igor
Další autoři: Volz, Kerstin (Dr.) (Vedoucí práce)
Médium: Dissertation
Jazyk:angličtina
Vydáno: Philipps-Universität Marburg 2008
Témata:
On-line přístup:Plný text ve formátu PDF
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!