On the mechanisms of hydrogen implantation induced silicon surface layer cleavage

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Höchbauer, Tobias
التنسيق: Dissertation
اللغة:الإنجليزية
منشور في: Philipps-Universität Marburg 2001
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:PDF النص الكامل
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!