0500 Oau
1100 2019
2050 ##0##urn:nbn:de:hebis:04-z2020-04870
2051 ##0##10.17192/z2020.0487
3000 Belz, Jürgen
4000 Analysis of Strain Relaxation, Ion Beam Damage and Instrument Imperfections for Quantitative STEM Characterizations
4085 ##0##=s MB=u https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2020/0487=x H
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5584 Methode
5584 Tetragonal Distortion
5584 Tetragonale Verspannung
5584 Imperfektionen
5584 Verspannung
5584 Physik
5584 Aberrationen
5584 Strain Relaxation
5584 Ionenstrahlschaden
5584 Ion Beam Damage
5584 Imperfections
5584 Aberrations
5584 Raster-Transmissions-Elektronenmikroskop
5584 Verspannungsrelaxation
5584 Strain
5584 Durchstrahlungselektronenmikroskop
5584 Elektronenmikroskop
opus:9405