0500 Oau
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4000 Quantitative Scanning Transmission Electron Microscopy for III-V Semiconductor Heterostructures Utilizing Multi-Slice Image Simulations
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5584 Physik
5584 quantitative STEM
5584 Bildsimulationen
5584 Quantitative Rastertransmissionselektronenmikroskopie
5584 Halbleiter
5584 III-V Halbleiter
5584 multi-slice simulations
5584 III-V semiconductors
5584 Elektronenmikroskopie
opus:8755