0500 Oau
1100 2018
2050 ##0##urn:nbn:de:hebis:04-z2018-01113
2051 ##0##10.17192/z2018.0111
3000 Budina, David Thomas Stefan
4000 Über die Methode des Bombardement Induzierten Ionentransports (BIIT) und ihre Anwendung auf alkaliionenleitende Borat- und Calciumphosphatgläser
4085 ##0##=s MB=u https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2018/0111=x H
5050 |540
5584 depletion
5584 Ionentransport
5584 Bombardement Induzierter Ionentransport
5584 Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie
5584 Konzentrationsprofil
5584 Thermionische Emission
5584 Arr
5584 Raumladung
5584 Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry
5584 concentration profile
5584 quantitativ
5584 Alkalimetallion
5584 Sekundärionen-Massenspektrometrie
5584 Bombardment Induced Iontransport
5584 Verarmun
5584 ToF-SIMS
5584 Poisson-Gleichung
5584 ToF-SIMS
5584 BIIT
5584 quantitative
5584 Kontaktspannung
5584 BIIT
5584 Chemie
opus:8088