Han, H. (2017). Quantitative Evaluation of the Interfaces in III/V Semiconductors with Scanning Transmission Electron Microscopy. Philipps-Universität Marburg. https://doi.org/10.17192/z2017.0776
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Han, Han. Quantitative Evaluation of the Interfaces in III/V Semiconductors with Scanning Transmission Electron Microscopy. Philipps-Universität Marburg, 2017. https://doi.org/10.17192/z2017.0776.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Han, Han. Quantitative Evaluation of the Interfaces in III/V Semiconductors with Scanning Transmission Electron Microscopy. Philipps-Universität Marburg, 2017. https://doi.org/10.17192/z2017.0776.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.