0500 Oau
1100 2017
2050 ##0##urn:nbn:de:hebis:04-z2017-01160
2051 ##0##10.17192/z2017.0116
3000 Ott, Andrea
4000 Structural characterization of antimonide-based metamorphic buffer layers on (001) silicon substrate
4085 ##0##=s MB=u https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2017/0116=x H
5050 |530
5584 Verspannung
5584 Halbleiter
5584 Elektronenmikroskopie
5584 Metamorphes Wachstum
5584 Physik,
5584 GaSb
5584 Lomer dislocations,strain
5584 electron microscopy
5584 metamorphic growth
5584 Ga(AsSb)
5584 Lomer Versetzungen
5584 semiconductor
5584 Physik
5584 Ga(PSb)
opus:7225