Structural analysis of dilute bismide alloys by means of high resolution scanning transmission electron microscopy
Energy efficiency plays a key role in the development of new industrial as well as daily life applications. There exists a strong demand for a new energy efficient generation of optoelectronic devices, especially in the growing market of internet data transfer where devices operate in the 1.55 µm...
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Format: | Doctoral Thesis |
Language: | English |
Published: |
Philipps-Universität Marburg
2016
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Table of Contents:
Für die Entwicklung von neuen technischen Anwendungen, spielt die Energieeffizienz eine
tragende Rolle. So ist die Nachfrage nach neuartigen energieeffizienten optoelektronischen
Bauelementen sehr groß, vor allem im Bereich des Internet-Datentransfers und der dafür
benötigten Laserdioden mit einer Emissionswellenlänge von 1,55 µm. Ein vielversprechendes
Materialsystem, welches sich zur Herstellung von hocheffizienten Bauelementen eignet,
ist der verdünnt Bi-haltige Verbindungshalbleiter Ga(AsBi). Es ist bekannt, dass der
geringe Einbau von Bi in GaAs die Bandlücke sowie die Temperaturabhängigkeit der
Emissionswellenlänge reduziert und zur Unterdrückung von nichtstrahlenden Rekombinationsprozessen
beiträgt, was mit Hilfe des sogenannten Valenzband Anticrossing Models
beschrieben werden kann. In der Praxis konnte somit zum ersten Mal ein elektrisch
gepumpter Breitstreifen Ga(AsBi) Quantum-well (QW) Laser realisiert werden.
Diese Arbeit beschäftigt sich mit der Strukturanalyse von Ga(AsBi), Ga(PAsBi) und
Ga(NAsBi), welche mittels der metallorganischen Gasphasenepitaxie (MOVPE, metal
organic vapour phase epitaxy) hergestellt wurden, wobei das Wachstum der Materialsysteme
nicht Teil dieser Arbeit war. Die strukturellen Untersuchungen erfolgten mit
Hilfe von sphärische Aberration korrigierter Rastertransmissionselektronenmikroskopie
(STEM, scanning transmission electron microscopy). Die Auswertung und Interpretation
der STEM Messungen erfolgte unter anderem mit Hilfe von Simulationsrechnungen, die
an Ga(AsBi) Superzellen durchgeführt wurden sowie mittels weiterer Datenverarbeitung.
Diese erfolgte mit der MATLAB-Software, welche die Trennung der Kristalluntergitter in
Hochauflösungsaufnahmen ermöglichte sowie zur statistischen Auswertung der Atomsäulenintensitäten
diente.
Insgesamt zeigen die Resultate dieser Arbeit, dass die Rastertransmissionselektronenmikroskopie
aus der Strukturanalyse und der Charakterisierung von neuartigen Halbleitern
nicht wegzudenken bzw. notwendig ist. Außerdem zeigen die Ergebnisse auch, dass Bi
haltige Halbleitermaterialien ein hohes Maß an chemischer Homogenität aufweisen, was
die Realisierung von neuen energieeffizienten Halbleiterbauelementen erlauben könnte.