0500 Oau 1100 2016 2050 ##0##urn:nbn:de:hebis:04-z2016-06566 2051 ##0##10.17192/z2016.0656 3000 Knaub, Nikolai 4000 Structural analysis of dilute bismide alloys by means of high resolution scanning transmission electron microscopy 4085 ##0##=s MB=u https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2016/0656=x H 5050 |530 5584 semiconductor physics 5584 Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie 5584 Halbleiterphysik 5584 Verdünnte Legierung 5584 dilute bismide alloys 5584 III-V semiconductors 5584 Bismut 5584 Verbindungshalbleiter 5584 Physik 5584 Scanning transmission electron microscopy opus:6891