Lichtmikroskopische Analyse des Wurzeldentins nach Kanalinstrumentierung mittels vier verschiedener maschineller Nickel-Titan-Feilensysteme

Ziel der vorliegenden Studie war es die Mikrorissbildung im Wurzeldentin nach schrittweiser Aufbereitung mit vier verschiedenen maschinellen Nickel-Titan-Systemen zu untersuchen. 60 humane, einwurzelige Zähne mit geradem Wurzelverlauf und abgeschlossenem Wurzelwachstum wurden randomisiert auf 4 Gru...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
1. Verfasser: Vosen, Vera Elisabeth
Beteiligte: Frankenberger, Roland (Prof. Dr.) (BetreuerIn (Doktorarbeit))
Format: Dissertation
Sprache:Deutsch
Veröffentlicht: Philipps-Universität Marburg 2013
Zahn-, Mund- u. Kieferheilkunde
Ausgabe:http://dx.doi.org/10.17192/z2013.0449
Schlagworte:
Online Zugang:PDF-Volltext
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Zusammenfassung:Ziel der vorliegenden Studie war es die Mikrorissbildung im Wurzeldentin nach schrittweiser Aufbereitung mit vier verschiedenen maschinellen Nickel-Titan-Systemen zu untersuchen. 60 humane, einwurzelige Zähne mit geradem Wurzelverlauf und abgeschlossenem Wurzelwachstum wurden randomisiert auf 4 Gruppen (n=15) aufgeteilt. Nach Trepanation der Versuchszähne erfolgte ihre koronale Reduktion auf 15 mm, woraus sich eine einheitliche Arbeitslänge von 14 mm ergab. Es schloss sich die schrittweise Aufbereitung der Zähne mit dem zugeteilten System an. Verwendet wurden GT-Series X, Mtwo, Reciproc und das S-ApeX-System. Vor Aufbereitungsbeginn und nach jeder Feile erfolgte eine mikrofotographische Dokumentation jeweils von mesial und distal. Das entstandene Bildmaterial wurde standardisiert ausgewertet. Für die statistische Berechnung der Daten wurde das Softwarepaket SPSS 19.0 verwendet. Jedes der untersuchten Systeme induzierte die Bildung von Mikrorissen im Wurzeldentin, wenn auch in unterschiedlichem Ausmaß. Die Risszunahme von der ersten zu den nächst folgenden Feilen war signifikant (p=0,05). Die höchste Gesamtrisslänge wurde bei mit dem S-ApeX-System aufbereiteten Zähnen gemessen, wohingegen das GT-Series X-System die wenigsten Mikrorisse in-duzierte. Bezüglich des Zeitaufwandes für die Aufbereitung waren Reciproc und GT-Series X signifikant schneller als Mtwo und S-ApeX.
DOI:http://dx.doi.org/10.17192/z2013.0449