0500 Oau
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3000 Beyer, Andreas
4000 Hochaufgelöste transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen an Galliumphosphid auf Silizium
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5584 Silicon
5584 Physik
5584 Galliumphosphid
5584 Raster-Transmissions-Elektronenmikroskop
5584 Durchstrahlungselektronenmikroskopie
5584 Epitaxie
5584 Galliumphosphide
5584 Scanning transmission electron microscopy
5584 Silicium
5584 Epitaxy
opus:4382