Transmission electron microscopic investigations of heteroepitaxial III/V semiconductor thin layer and quantum well structures

Transmission electron microscopic investigations of heteroepitaxial III/V semiconductor thin layer and quantum well structures

The first part of the thesis presents compositional evaluation of ternary quantum well structures grown on GaAs and GaP substrates using the chemical sensitive 002 dark field imaging in Transmission Electron Microscopy (TEM). The composition retrieved by the dark field intensity measurements and the...

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1. Verfasser: Németh Igor
Beteiligte: Volz, Kerstin (Dr.) (BetreuerIn (Doktorarbeit))
Format: Dissertation
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Philipps-Universität Marburg 2008
Schlagworte:
Verfeinerte Strukturfaktorberechnungen
Physik
TEM
Heteroepitaxie
Durchstrahlungselektronenmikroskopie
Planardefekte
Strukturfaktor
Planar defects
Gitterbaufehler
Refined structure factor calculations
Physics
Online Zugang:PDF-Volltext
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